A revista Metrologia, editada pelo "Bureau Internacional de Pesos e Medidas-BIPM" e publicada pelo "Institute of Physics-IoP", acaba de publicar o Special issue of Metrologia on Materials Metrology – abril de 2010. O fascículo é todo dedicado à Metrologia de Materiais, conforme anunciado no site do BIPM, transcrito abaixo, e está sendo disponibilizado, sem ônus, aos interessados conforme informação que segue o anúncio.
É uma coletânea importante e atual de artigos sobre Metrologia de Materiais, organizada por Seton Bennett (NPL-UK) e Joaquin Valdés (INTI-Argentina), membros do BIPM, que focaliza os resultados do "ad hoc Working Group on Materials Metrology " instituido pelo CIPM há alguns anos, para mapear o estado da arte e as atividades atualmente desenvolvidas no campo da Metrologia de Materiais.
Considero que se trata de material muito importante e informativo, de grande interesse para quem trabalha em Metrologia de Materiais, que envolve a caracterização Metrológica dos mais diversos tipos de materiais, usados nas tecnologias de ponta, mas também nos mais diversos processos de produção industrial, e em laboratórios de pesquisa nos campos da Física, Química, Engenharia, Ciências Médicas, dentre outras.
Há dois artigos introdutórios gerais e 14 artigos específicos nas seguintes áreas: Traceability for Materials Metrology; Mechanical Properties; Structural Properties; Electromagnetic Properties; Thermophysical Properties; Acoustic Properties; Optical Properties. Acredito que alguns destes artigos podem ser de grande interesse para a comunidade Metrológica Brasileira.
Todos os artigos estão disponíveis para dowload gratuito. Ver página de abertura do BIPM - www.bipm.org - onde esta publicação é anunciada e dá acesso também a todo o material do BIPM (incluindo SI, VIM e GUM) - ou ir direto para o índice do fascículo- http://iopscience.iop.org/0026-1394/47/2 - ou ainda ir para o site - http://iopscience.iop.org/0026-1394/ da Revista Metrologia, onde estão disponíveis os índices e abstracts de toda a coleção da Revista Metrologia, desde o número 1 de janeiro de 1965. Alguns artigos completos são abertos ocasionalmente, mas todos os artigos são de acesso livre nos 30 dias subsequentes à publicação on line. Em particular, o artigo "REVIEW ARTICLE-Bayesian assessment of uncertainty in metrology: a tutorial", é particularmente interessante para a comunidade metrológica e está disponível gratuitamente por mais alguns dias neste último site - buscar no fascículo de junho 2010, ainda incompleto, mas com alguns artigos, com o "Baesyan...", já disponíveis on line.
Nota - os artigos estão em inglês, apesar do nome da revista lembrar um nome em português!
Giorgio Moscati
moscati@if.usp.br
Membro do Conselho Editorial da Revista Metrologia BIPM